EinScan Rigil escáner 3D-Shining 3D

Triple tecnología de escaneo

• Láser Azul Cruzado (19+19 líneas): ideal para escaneado rápido de piezas complejas y geometrías irregulares. Ofrece excelente cobertura sin necesidad de marcadores.
• Láser Azul Paralelo (7 líneas): perfecto para superficies planas o con detalles finos, proporcionando precisión y definición excepcionales.
• VCSEL Infrarrojo: tecnología segura para los ojos, ideal para el escaneo de personas o grandes objetos. Altamente eficaz en exteriores y superficies oscuras o reflectantes sin necesidad de spray.

Precisión y resolución de vanguardia

El EinScan Rigil alcanza una precisión volumétrica de hasta 0.04 + 0.06 mm/m y una resolución geométrica de hasta 0.05 mm, lo que lo convierte en una solución profesional para aplicaciones de metrología, ingeniería inversa, conservación del patrimonio o automoción.

Tres modos de funcionamiento

• Modo Autónomo: escanea, visualiza y edita directamente desde su pantalla AMOLED de 6,4” con almacenamiento y batería integrados.
• Modo Inalámbrico con PC: conexión Wi-Fi 6 para escaneos rápidos con potencia extra de procesamiento.
• Modo Cableado con PC: máxima estabilidad de conexión para tareas complejas.

Adaptabilidad sin precedentes

• Escaneo sin marcadores gracias a su algoritmo avanzado de seguimiento.
• Captura eficiente bajo luz solar mediante proyectores optimizados y cámaras duales.
• Escaneo de texturas en color real con cámara HD RGB de 5 MP para digitalización fiel y rica en detalles.

Hardware todo en uno

• CPU ARM Cortex de 8 núcleos a 2.4 GHz.
• 32 GB RAM DDR5 + 1 TB SSD + 32 GB eMMC.
• Baterías reemplazables de 2 x 6000 mAh para hasta 2 horas de autonomía.
• Pantalla AMOLED multitáctil 2K de 6,4”.

Formatos y conectividad

Exportación en múltiples formatos estándar: STL, OBJ, PLY, ASC, 3MF. Conectividad mediante Wi-Fi 6, USB-C 3.0 y Ethernet.

Software EXScan Rigil

Incluye el potente software profesional EXScan Rigil, con edición avanzada, alineación automática, relleno de agujeros, herramientas de corte, optimización global y funciones de medición.